用于分子晶体结构测定提高用户的科学水平? 专有的高精度和高准确性轴承设计，可配置固定的chi轴测角仪或kappa测角仪 先进的微焦点X射线源(密封管或MetalJet 液态金属射流) 单波长或双波长 (Cu, Ga,Mo, Ag, In) 光子计数探测器，实现最高的光斑探测效率 新颖的数据采集算法，可在最短时间内最大限度地提高 完整性和冗余度 磁性测角仪底座，便于晶体安装